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貴州遵義注銷主要經(jīng)營(yíng)： 儀器校準(zhǔn)。為使產(chǎn)品更加符合客戶需求，公司實(shí)行一套完整標(biāo)準(zhǔn)的售前，售中，售后服務(wù)。我們公司始終遵循“質(zhì)量為主,客戶至上,誠(chéng)信為本”的經(jīng)營(yíng)理念。致力于提供高品質(zhì)的產(chǎn)品，完善的售后服務(wù)，快捷的供貨。無(wú)論您身處何方，都能感受到我們工作人員迅捷優(yōu)良的服務(wù)。公司以良好的信譽(yù)、優(yōu)質(zhì)的產(chǎn)品、雄厚的實(shí)力、低廉的價(jià)格享譽(yù)全國(guó)30多個(gè)省、市、自治區(qū)、直轄市，產(chǎn)品深得用戶依賴。歡迎新老客戶來(lái)電咨詢。



此參數(shù)對(duì)于采用負(fù)反應(yīng)分析酶活性的方法甚為重要，下面以丙氨酸氨基轉(zhuǎn)移酶為例簡(jiǎn)述設(shè)置MIN-OD的步驟，選擇一份高活性酶的混合血清，用生理鹽水稀釋，得到一組從低濃度至高濃度的丙氨酸氨基轉(zhuǎn)移酶溶液；把這一組溶液按儀器設(shè)定的程序進(jìn)行測(cè)定，并打印出反應(yīng)曲線；從曲線中可以發(fā)現(xiàn)當(dāng)酶活力達(dá)到一定臨界濃度時(shí)，該臨界濃度的反應(yīng)曲線在連續(xù)監(jiān)測(cè)時(shí)間內(nèi)成線性，但是在監(jiān)測(cè)時(shí)間后成非線性，即連續(xù)監(jiān)測(cè)時(shí)間的后一個(gè)讀數(shù)點(diǎn)正好是線性與非線性的臨界點(diǎn)，所以該點(diǎn)的吸光度是在連續(xù)監(jiān)測(cè)時(shí)間內(nèi)酶促反應(yīng)沒(méi)有發(fā)生底物耗盡時(shí)所能達(dá)到的小吸光度。

  當(dāng)酶活力高于上述臨界濃度時(shí)，反應(yīng)曲線在連續(xù)監(jiān)測(cè)期內(nèi)已不呈線性反應(yīng)，有些儀器自動(dòng)選擇彈性速率功能，能自動(dòng)選擇反應(yīng)曲線上連續(xù)監(jiān)測(cè)期內(nèi)仍呈線性的吸光度數(shù)據(jù)計(jì)算結(jié)果，使酶活性測(cè)定的線性范圍得以擴(kuò)大，可以減少稀釋及重測(cè)次數(shù)降低成本。試劑吸光度上限下限試劑吸光度上限為正向反應(yīng)用，可參考試劑盒說(shuō)明書數(shù)值折算成所用比色杯的光徑。如試劑盒要求上限為，比色杯光徑cm，則試劑吸光度上限設(shè)置為。試劑吸光度下限為負(fù)向反應(yīng)用，設(shè)置法同試劑吸光度上限。

  每種試劑都有一定的空白吸光度范圍，試劑空白吸光度的改變往往提示著該試劑的變質(zhì)，此時(shí)應(yīng)更換合格試劑。線性范圍試劑盒的線性范圍與試劑質(zhì)量反應(yīng)時(shí)試劑/樣品比有關(guān)，應(yīng)實(shí)測(cè)試劑盒的線性范圍。當(dāng)樣品濃度低于線性下限應(yīng)增加樣品量重測(cè)，而高于線性上限則應(yīng)稀釋后重測(cè)。使用任何一種方法測(cè)定某待測(cè)物時(shí)，待測(cè)物都有一個(gè)可測(cè)定的濃度或活性范圍，樣品結(jié)果若超過(guò)此范圍，儀器將顯示測(cè)定結(jié)果超過(guò)線性范圍的提示，多數(shù)分析儀會(huì)自動(dòng)將樣品減量或增量重新測(cè)定。

  校正方法儀器內(nèi)的設(shè)置的校正方法一般包含二點(diǎn)校正多點(diǎn)校正非線性校正等。二點(diǎn)校正是指用一個(gè)濃度的標(biāo)準(zhǔn)品和一個(gè)試劑空白進(jìn)行校正的方法，該法要求反應(yīng)必須符合朗伯-比爾定律，即標(biāo)準(zhǔn)曲線呈直線。多點(diǎn)校正是多個(gè)具有濃度梯度的標(biāo)準(zhǔn)品用非線性法進(jìn)行校正，適用于標(biāo)準(zhǔn)曲線呈各種曲線形式的項(xiàng)目，如多數(shù)的免疫濁度法。非線性校正包括對(duì)數(shù)校正指數(shù)校正量程法校正等，標(biāo)準(zhǔn)曲線呈對(duì)數(shù)或指數(shù)曲線特征的項(xiàng)目可選擇所對(duì)應(yīng)的方法校正，量程法則是根據(jù)標(biāo)準(zhǔn)曲線上每?jī)牲c(diǎn)間濃度與吸光度的關(guān)系計(jì)算待測(cè)物的濃度。



在這種情況下可以選擇－性能比較穩(wěn)定的實(shí)物益具作為核查標(biāo)準(zhǔn)。)計(jì)址標(biāo)準(zhǔn)僅巾實(shí)物忱具組成，而被檢定或被校準(zhǔn)的對(duì)象為非實(shí)物址具的測(cè)儀器實(shí)物且具通?？梢灾苯哟▉?lái)檢定或校準(zhǔn)非實(shí)物量具的測(cè)量?jī)x器，并且實(shí)物扯具的穩(wěn)定性通常遠(yuǎn)優(yōu)于非實(shí)物址具的測(cè)員儀器，因此，在這種情況下可以不必進(jìn)行穩(wěn)定性考核。但需畫出計(jì)社標(biāo)準(zhǔn)器所提供的標(biāo)準(zhǔn)量值隨時(shí)間變化的曲線，即計(jì)標(biāo)準(zhǔn)器穩(wěn)定性曲線圖。計(jì)標(biāo)準(zhǔn)片和被檢定或被校準(zhǔn)的對(duì)象均為非實(shí)物扯具的測(cè)扯儀器。

	如果存在合適的比較穩(wěn)定的對(duì)應(yīng)千i亥參數(shù)的實(shí)物鼠具，可以用它作為核查標(biāo)準(zhǔn)來(lái)進(jìn)行第二章建標(biāo)指導(dǎo)??計(jì)址標(biāo)準(zhǔn)的穩(wěn)定性考核C如果對(duì)千該被測(cè)參數(shù)來(lái)說(shuō)，不存在可以作為核查標(biāo)準(zhǔn)的實(shí)物總具，可以不作穩(wěn)定性考核八測(cè)量不確定度評(píng)定測(cè)批不確定度的評(píng)定方法應(yīng)依據(jù)JJF《測(cè)扯不確定度評(píng)定與表示》的規(guī)定，使用的計(jì)肚術(shù)語(yǔ)應(yīng)執(zhí)行JJF《通川計(jì)址術(shù)語(yǔ)及定義》等技術(shù)規(guī)范的規(guī)定。如果相關(guān)國(guó)際組織已經(jīng)制定了該計(jì)痲標(biāo)準(zhǔn)所涉及領(lǐng)域的測(cè)拉不確定度評(píng)定指南，則測(cè)批不確定度評(píng)定也可以依據(jù)這些指南進(jìn)行在這些指南的適用范圍內(nèi)。


	九檢定或校準(zhǔn)結(jié)果的驗(yàn)證檢定或校準(zhǔn)結(jié)果的驗(yàn)證址指對(duì)給出的檢定或校準(zhǔn)結(jié)果的可信程度進(jìn)行實(shí)驗(yàn)驗(yàn)證。由于驗(yàn)譏的結(jié)論與測(cè)屜不確定度有關(guān)，因此，驗(yàn)證的結(jié)論在某種程度上同時(shí)也說(shuō)明了所給出檢定或校準(zhǔn)結(jié)果的不確定度足否合理驗(yàn)證方法檢定或校準(zhǔn)結(jié)果的驗(yàn)證－般應(yīng)通過(guò)更高一級(jí)的計(jì)址標(biāo)準(zhǔn)采用傳遞比較法進(jìn)行驗(yàn)證。在無(wú)法找到更高一級(jí)的計(jì)址標(biāo)準(zhǔn)時(shí)，也可以通過(guò)具有相同準(zhǔn)確度等級(jí)的實(shí)驗(yàn)室之間的比對(duì)來(lái)驗(yàn)證檢定或校準(zhǔn)結(jié)果的合即性。)傳遞比較法用被考核的計(jì)批標(biāo)準(zhǔn)測(cè)址一穩(wěn)定的被測(cè)對(duì)象，然后將該被測(cè)對(duì)象用另一更高級(jí)的計(jì)扯標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行測(cè)掀。


	若用被考核計(jì)址標(biāo)準(zhǔn)和高一級(jí)計(jì)址標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行測(cè)盤時(shí)的擴(kuò)展不確定度Us或k=時(shí)的U,下同分別為，它們的測(cè)鼠結(jié)果分別,在兩者的包含因子近似相等的前提下應(yīng)滿足成立時(shí)，可忽略影響，此時(shí)式-)成為四-)對(duì)于某些計(jì)址標(biāo)準(zhǔn)，例如址塊，其檢定規(guī)程規(guī)定其擴(kuò)展不確定度對(duì)應(yīng)于%的包含概率，此時(shí)所給出的擴(kuò)展不確定度所對(duì)應(yīng)的K值與相差較大。


	在進(jìn)行判斷時(shí)，應(yīng)先將其換算到對(duì)應(yīng)于k=時(shí)的擴(kuò)展不確定度。由于經(jīng)換算后的擴(kuò)展不確定度變小，即其判斷標(biāo)準(zhǔn)將比不換算更嚴(yán)格。)比對(duì)法如果不可能采用傳遞比較法時(shí)，可采用多個(gè)實(shí)驗(yàn)室之間的比對(duì)。假定各實(shí)驗(yàn)室的計(jì)量標(biāo)準(zhǔn)具有相同準(zhǔn)確度等級(jí)，此時(shí)采川各實(shí)驗(yàn)室所得到的測(cè)扯結(jié)果的平均值作為被測(cè)址的佳估計(jì)值。丐各實(shí)驗(yàn)室的測(cè)址不確定度不同時(shí)，原則上應(yīng)采用加權(quán)平均值作為被測(cè)量的佳估計(jì)值，其權(quán)重與測(cè)隊(duì)不確定度有關(guān)。但由于各實(shí)驗(yàn)室在評(píng)定測(cè)矗不確定度時(shí)所掌握的尺度不可能完全相同，故仍采用偉術(shù)平均值了作為參考值。


	電磁計(jì)量器具建標(biāo)指南若被考核實(shí)驗(yàn)室的測(cè)址結(jié)果為Yi,其測(cè)扯不確定度為b,在被考核實(shí)驗(yàn)室測(cè)扯結(jié)果的方差比較接近千各實(shí)驗(yàn)室的平均方差，以及各實(shí)驗(yàn)室的包含因子均相同的條件下，應(yīng)滿足驗(yàn)證方法的選用IYla一h了,傳遞比較法是具有溯源性的，而比對(duì)法則并不具有溯源性，因此，檢定或校準(zhǔn)結(jié)果的驗(yàn)證原則上應(yīng)采用傳遞比較法，只有在不可能采用傳遞比較法的情況下才允許采用比對(duì)法進(jìn)行檢定或校準(zhǔn)結(jié)果的驗(yàn)證，并且參加比對(duì)的實(shí)驗(yàn)室應(yīng)盡可能多。


	第三章電磁計(jì)量器具建標(biāo)申請(qǐng)書和技術(shù)報(bào)告編寫示例示例一等直流電阻標(biāo)準(zhǔn)裝置計(jì)量標(biāo)準(zhǔn)考核復(fù)查申請(qǐng)書證字第號(hào)計(jì)量標(biāo)準(zhǔn)名稱一等直流電阻標(biāo)準(zhǔn)裝置計(jì)量標(biāo)準(zhǔn)代碼申請(qǐng)考核單位組織機(jī)構(gòu)代碼單位地址郵政編碼聯(lián)系人聯(lián)系年月電功計(jì)量器具建標(biāo)指南說(shuō)明根據(jù)《中華人民共和國(guó)計(jì)批法》的有關(guān)規(guī)定，凡建立社會(huì)公用計(jì)撮標(biāo)準(zhǔn)或部門企事業(yè)單位高計(jì)址標(biāo)泭，需經(jīng)有關(guān)質(zhì)技術(shù)監(jiān)督部門主持考核合格后方可使用《計(jì)扭標(biāo)準(zhǔn)考核復(fù)杏巾沾書》一般使用A復(fù)印紙，采用計(jì)算機(jī)打印，如果用墨水筆墳寫，要求宇跡。



此外，阻抗也是材料和物質(zhì)的一種屬性，可根據(jù)材料和物質(zhì)的幾何形狀及其周圍空間的電磁特性計(jì)算得到，這個(gè)定義稱為阻抗的無(wú)源定義。前者適用于絕大多數(shù)實(shí)際計(jì)量，后者則直接與基本物理量相關(guān)，適于建立計(jì)量標(biāo)準(zhǔn)。根據(jù)蘇州儀器校準(zhǔn)頻率和電路形式，阻抗可分為集總參數(shù)阻抗和分布參數(shù)阻抗（或微波阻抗）。當(dāng)頻率較低（數(shù)百M(fèi)Hz以下）時(shí)，電路和元件的尺寸與波長(zhǎng)相比很小，電路可認(rèn)為是由單個(gè)的電阻、電容、電感等集總參數(shù)元件組成，這些元件的阻抗以及與之有關(guān)的Q值、介電常數(shù)和介質(zhì)損耗角正切等參量稱為集總參數(shù)阻抗參量。隨著頻率進(jìn)一步提高，純粹的集總參數(shù)元件越來(lái)越難以得到，所有的電路元件都必須被視為均勻分布于電路中的各點(diǎn)，而阻抗也表現(xiàn)為分布參數(shù)電路阻抗。

在集總參數(shù)電路中，由于沿傳輸線的電壓和電流處處相等，因此沿線各點(diǎn)的阻抗也相等。在分布參數(shù)電路中，沿線通常既有向前行進(jìn)的入射波，也有朝反方向行進(jìn)的反射波，兩者合成形成駐波。因此在一般情況下，沿線電壓和電流處處不同，因此阻抗也不相同。描述分布參數(shù)電路的電特性時(shí)，除了使用阻抗參量外，還經(jīng)常使用物理概念更明確也更易于計(jì)量的反射參量（電壓反射系數(shù)Γ）和駐波參量（電壓駐波比S）。為了建立阻抗Z與Γ和S之間的關(guān)系，可將Z對(duì)傳輸線的特性阻抗Z0（僅與傳輸線本身的參數(shù)和頻率有關(guān)）進(jìn)行歸一化，得到歸一化阻抗，Zn與Γ和S之間便具有了完全確定的轉(zhuǎn)換關(guān)系。在分布參數(shù)電路中，由于沿線各點(diǎn)的阻抗不同，因此必須指明阻抗是哪個(gè)位置的阻抗。

下標(biāo)i和r分別表示入射波和反射波。該點(diǎn)（或該平面）的電壓反射系數(shù)Γ定義為對(duì)無(wú)耗傳輸線，不隨位置發(fā)生改變，θ與位置呈線性關(guān)系。電壓駐波比S簡(jiǎn)稱駐波比，定義為傳輸線上相鄰的電壓大值和小值之比：駐波比的相位以lmin表征，lmin規(guī)定為由參考點(diǎn)（或平面）向信號(hào)源方向移動(dòng)到近一個(gè)駐波節(jié)點(diǎn)（電壓小點(diǎn)）處的距離。駐波相位的單值變化范圍為。集總參數(shù)阻抗標(biāo)準(zhǔn)和蘇州儀器校準(zhǔn)精密計(jì)量?jī)x器在低頻范圍內(nèi)，通常采用各種電橋來(lái)實(shí)現(xiàn)被計(jì)量阻抗和標(biāo)準(zhǔn)阻抗的精密比較。在高頻范圍內(nèi)，電路元件的殘量以及它們和地之間的雜散阻抗使得低頻電橋不再適用，而需要采用其他精密計(jì)量方法和裝置。集總參數(shù)阻抗標(biāo)準(zhǔn)。在集總參數(shù)阻抗檢定系統(tǒng)表中，常用容抗作為參考量，因?yàn)槿菘沟牧恐悼捎呻娙萜鲙缀纬叽绾涂諝獾南鄬?duì)介電常數(shù)直接計(jì)算得到。

高頻電容標(biāo)準(zhǔn)實(shí)際上是一段精密同軸空氣介質(zhì)傳輸線，其幾何形狀簡(jiǎn)單，長(zhǎng)期穩(wěn)定性好，殘余阻抗很小。如果再輔以低頻電容標(biāo)準(zhǔn)，借助各種指零式和諧振式儀表，通過(guò)直接比較和外推，就可以將量值傳遞到集總參數(shù)阻抗的各種工作標(biāo)準(zhǔn)器上。精密雙T電橋。在集總參數(shù)阻抗量值傳遞和精密測(cè)試中，雙T電橋是測(cè)量不確定度小的一種計(jì)量裝置。雙T電橋的簡(jiǎn)化電路如圖11.41所示，被測(cè)器件接入TXA或TXB端。TXA和TXB端的測(cè)量結(jié)果可相互校準(zhǔn)，因此雙T電橋具有自校準(zhǔn)功能。由于它使用準(zhǔn)確度和讀數(shù)分辨率都很高的精密同軸可變電容作為阻抗標(biāo)準(zhǔn)，因此可以獲得很高的準(zhǔn)確度。信號(hào)源、指示器、被測(cè)阻抗和標(biāo)準(zhǔn)電容器均接在共同的接地端子上，有利于屏蔽和減少干擾，特別適用于高頻阻抗測(cè)量。

此外還有高頻Q表、LRC表和高頻阻抗分析儀等儀器。Q表是集總參數(shù)阻抗計(jì)量?jī)x中的一種通用儀器，雖然它的計(jì)量準(zhǔn)確度不高，但使用方便，能測(cè)Q值等多種阻抗參量，特別適用于測(cè)量高Q低損耗元件，因此應(yīng)用十分廣泛。Q表的檢定中常使用標(biāo)準(zhǔn)Q值線圈作為標(biāo)準(zhǔn)量具。LRC表是進(jìn)行多功能寬量程分立元件高頻阻抗參量測(cè)量的綜合測(cè)量?jī)x器，它利用電橋?qū)⒈粶y(cè)阻抗Zx與標(biāo)準(zhǔn)阻抗Rs之比轉(zhuǎn)換為電壓之比，而測(cè)量部分則使用雙斜積分?jǐn)?shù)字電壓表技術(shù)測(cè)量電壓矢量比值，從而求出測(cè)量結(jié)果。高頻阻抗分析儀則可以測(cè)量有源和無(wú)源器件的高頻阻抗特性。3．微波阻抗標(biāo)準(zhǔn)和蘇州儀器校準(zhǔn)精密計(jì)量設(shè)備（1）微波阻抗標(biāo)準(zhǔn)。除了傳輸線特性阻抗、阻抗（導(dǎo)納）、電壓反射系數(shù)、電壓駐波比等參量外，描述微波阻抗的物理量還包括四端網(wǎng)絡(luò)的散射參量等。



把電子校準(zhǔn)件的B端口連接到E5063A的端口1，電子校準(zhǔn)件的A端口連接到SMA線纜的一端，注意要使用轉(zhuǎn)矩扳手?jǐn)Q緊并開始校準(zhǔn)。校準(zhǔn)過(guò)程僅需幾秒鐘。目前常用的信號(hào)分析儀計(jì)量方法采用標(biāo)準(zhǔn)矢量信號(hào)源來(lái)進(jìn)行，優(yōu)點(diǎn)是簡(jiǎn)單方便易于操作，缺點(diǎn)是無(wú)法保證“標(biāo)準(zhǔn)源”的準(zhǔn)確性、穩(wěn)定性和重復(fù)性。國(guó)際上的計(jì)量機(jī)構(gòu)，如德國(guó)PTB、英國(guó)NPL、美國(guó)NIST采用高速采樣示波器和多載波信號(hào)源，通過(guò)同步觸發(fā)裝置進(jìn)行時(shí)間和相位同步并進(jìn)行系統(tǒng)校準(zhǔn)，示波器的采樣值，經(jīng)過(guò)軟件程序計(jì)算后，作為幅度相位參數(shù)基準(zhǔn)，從而實(shí)現(xiàn)信號(hào)分析儀參數(shù)的計(jì)量校準(zhǔn)。多載波信號(hào)源+示波器+同步器優(yōu)點(diǎn)是將矢量參數(shù)溯源到功率電平、時(shí)間和頻率上，缺點(diǎn)是示波器頻率范圍受限。

不確定度較大，同步延時(shí)在微波測(cè)量時(shí)帶來(lái)較大的相位誤差，系統(tǒng)復(fù)雜，引入更多的不確定度。本文提出連續(xù)波頻率偏移法測(cè)量信號(hào)分析儀的剩余誤差，基于本方法，加入模擬調(diào)制測(cè)量信號(hào)分析儀的測(cè)量準(zhǔn)確度。連續(xù)波頻率偏移法：計(jì)量信號(hào)分析儀的載波頻率誤差、功率誤差、矢量信號(hào)分析剩余誤差表征信號(hào)分析儀解調(diào)各項(xiàng)指標(biāo)的本底噪聲；矢量是一個(gè)圖解工具，就是在直角坐標(biāo)系中用一個(gè)旋轉(zhuǎn)箭頭描述信號(hào)，箭頭的長(zhǎng)度代表信號(hào)峰值幅度，箭頭與橫軸的正半軸夾角為相位，箭頭逆時(shí)針旋轉(zhuǎn)為正方向，每秒鐘旋轉(zhuǎn)的圈數(shù)為頻率。將信號(hào)進(jìn)行矢量分解，即分解為峰值幅度相同、頻率相同但相位相差90度的兩個(gè)分量。通常采用一個(gè)余弦信號(hào)和一個(gè)正弦信號(hào)描述這兩個(gè)信號(hào)。其中余弦分量為同相分量I。

正弦分量為正交分量Q。實(shí)際測(cè)量信號(hào)（m）與理想無(wú)誤差參考信號(hào)(R)的幅度差。幅度誤差通常表述為其與參考信號(hào)幅度的百分比。實(shí)際測(cè)量信號(hào)（m）與理想無(wú)誤差參考信號(hào)(R)的相位差。實(shí)際測(cè)量信號(hào)原點(diǎn)與理想無(wú)誤差參考信號(hào)原點(diǎn)之間矢量差的幅度。通常表述為其與參考信號(hào)幅度的比值（dB）。目標(biāo)是產(chǎn)生校準(zhǔn)信號(hào)，對(duì)應(yīng)矢量信號(hào)分析儀(VSA)的響應(yīng)數(shù)字解調(diào)標(biāo)準(zhǔn)星座點(diǎn)，或其中一部分星座點(diǎn)。根據(jù)I/Q矢量解調(diào)原理，通過(guò)設(shè)置校準(zhǔn)信號(hào)與VSA中心頻率差對(duì)應(yīng)的I/Q相位差，得到準(zhǔn)確的I/Q矢量圖和星座點(diǎn)。分析數(shù)字調(diào)制方式，發(fā)現(xiàn)其矢量星座圖中包含N個(gè)原點(diǎn)對(duì)稱的星座點(diǎn)，各星座點(diǎn)幅度相同，我們把這些星座點(diǎn)稱為目標(biāo)星座點(diǎn)。信號(hào)發(fā)生器的頻率和功率電平為校準(zhǔn)溯源參數(shù)。

頻率參數(shù)：采用信號(hào)發(fā)生器連接外參考標(biāo)準(zhǔn)時(shí)鐘源，或者采用頻率計(jì)或測(cè)量監(jiān)測(cè)校準(zhǔn)；功率電平參數(shù)：采用功率計(jì)或測(cè)量監(jiān)測(cè)校準(zhǔn)。被測(cè)VSA設(shè)置為校準(zhǔn)目標(biāo)調(diào)制方式，中心頻率在其頻率范圍內(nèi)選擇，符號(hào)速率在其指標(biāo)范圍內(nèi)選擇，對(duì)應(yīng)濾波器可不設(shè)（矩形），或?yàn)樯嘞?RC或Cosine)，滾降系數(shù)0.22。連接信號(hào)發(fā)生器與VSA的射頻端口，設(shè)置合適的功率電平，它們的頻率偏差按照上表對(duì)應(yīng)的調(diào)制方式設(shè)置。讀取VSA的頻率誤差、功率電平誤差及各項(xiàng)解調(diào)參數(shù)剩余（固有）誤差，如剩余EVM，剩余幅度誤差，剩余相位誤差，I/Q原點(diǎn)偏移（載波泄漏），剩余I/Q不平衡，剩余增益不平衡，剩余相位不平衡。矢量信號(hào)分析儀的數(shù)字矢量解調(diào)參數(shù)的量值準(zhǔn)確度校準(zhǔn)和檢定：幅度誤差和相位誤差。
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