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兩者均服從正態分布。因此，可以認為被測扯的分布將接近于正態分布。擴展不確定度通過估算得出，合成標準不確定度的有效自由度遠大于,則擴展不確定度為測扯結果的不確定度報告第三章電硉計量器具遠標申請書和技術報告編寫示例條件下，被校準數字多用表直流電壓lOV點示值誤差。由于測扯結果的有效自由度較大，故對千正態分布來說，包含概率約為。其他測批點直流電壓其他測扯點不確定度的分析方法和計算過程與此相似。測批模型待校準數字多用表的示值誤差及可表示為考慮到數字多用表的分辨力對測批結果的影響以及各種因素對多功能標準源電流值的影響，其測社模型為數字多用表A所測得的電流值；由數字多用表A有限分辨力對測址結果的影響；多功能標準源輸出的標準電流值；由于下述原因對多功能標準源電流值的綜合影響自上次校準以來，標準源的電流值的漂移；偏置非線性以及增益變化等效應對標準源電流值的影響；環境溫度對標準源電流值的影響；電源電壓的影響。
直流電流功能以點為例測址不確定度評定I測址方法依據JIG《直流數字電流表試行》，以多功能標準源A為參考標準，采用直流標準電流源法對數字多用表直流電流功能點進行校準。標準不確定度分扯評定I數字多用表讀數引入的標準不確定度U進行重復性測試。短時間內，由A型多功能標準源輸出標準電流給數字多用表，并讀取數字多用表的示值，測扯結果為測址次數經計算后可得實驗標準差電磁計量器具建標指南次測拭平均值的標準不確定度為被校準數字多用表的分辨力引入的標準不確定度U數字多用表此時的分辨力因此每一個讀數值可能包含的誤差應在范隕內。
假定其在該范削內滿足矩形分布，千是所引入的不確定度分掀為參考標準引入的標準不確定度U多功能標準源A的校準給出，其直流電流為相對擴展不確定度。故其標準不確定度為其他因素對多功能標準源電壓值的影響引入的標準不確定度型多功能標準源的生產者沒有分別給出每一種因素對輸出電流的影響，而僅指出在規定測扯條件下，多功能標準源的不確定度為。
于是對于校準點，其不確定度為這些規定的測址條件包括環境溫度范圍內；A型多功能標準枙的電源電壓在范圍內；A型多功能標準源自上一次校準至今不超過年。由千這些條件均得到滿足，并且標準源的校準歷史記錄表明各項技術均為合格，于是可以認為由這些因素的影響而產生的不確定度,對應的標準不確定度為另外，由于生產者并未注明該不確定度服從何種分布，但從歷年校準以及平時的使用經驗來看，所使用的A型標準源輸出電壓值的穩定性很好，對微小環境變化的適應性也較強。
因此將該分布視為正態分布較為合理。相關性由千重復性帶來的不確定度分拭小于分辨力帶來的不確定度分批，所以只考慮分辨力帶來的影響。除此之外，各輸入址之間術發現有其他值得考慮的相關性。標準不確定度分址一覽表符號估計值概率分布。合成標準不確定度被測址分布的估計由不確定度概算可知，共有個不確定度分量。
顯然，由參考標準的不確定度和其他因素對標準源的影響引入的不確定度是兩個明顯占優勢的分量。兩者均服從正態分布。因此，可以認為被測址的分布將接近千正態分布。擴展不確定度通過估算得出，合成標準不確定度的有效自由度遠大于,取,則擴展不確定度為第三章電啪計量器具建標申訝書和技術報告編寫示例測批結果的不確定度報告行氣條件下，被校準數字多川表直流電流點示值誤差為。
此外，阻抗也是材料和物質的一種屬性，可根據材料和物質的幾何形狀及其周圍空間的電磁特性計算得到，這個定義稱為阻抗的無源定義。前者適用于絕大多數實際計量，后者則直接與基本物理量相關，適于建立計量標準。根據蘇州儀器校準頻率和電路形式，阻抗可分為集總參數阻抗和分布參數阻抗（或微波阻抗）。當頻率較低（數百MHz以下）時，電路和元件的尺寸與波長相比很小，電路可認為是由單個的電阻、電容、電感等集總參數元件組成，這些元件的阻抗以及與之有關的Q值、介電常數和介質損耗角正切等參量稱為集總參數阻抗參量。隨著頻率進一步提高，純粹的集總參數元件越來越難以得到，所有的電路元件都必須被視為均勻分布于電路中的各點，而阻抗也表現為分布參數電路阻抗。
在集總參數電路中，由于沿傳輸線的電壓和電流處處相等，因此沿線各點的阻抗也相等。在分布參數電路中，沿線通常既有向前行進的入射波，也有朝反方向行進的反射波，兩者合成形成駐波。因此在一般情況下，沿線電壓和電流處處不同，因此阻抗也不相同。描述分布參數電路的電特性時，除了使用阻抗參量外，還經常使用物理概念更明確也更易于計量的反射參量（電壓反射系數Γ）和駐波參量（電壓駐波比S）。為了建立阻抗Z與Γ和S之間的關系，可將Z對傳輸線的特性阻抗Z0（僅與傳輸線本身的參數和頻率有關）進行歸一化，得到歸一化阻抗，Zn與Γ和S之間便具有了完全確定的轉換關系。在分布參數電路中，由于沿線各點的阻抗不同，因此必須指明阻抗是哪個位置的阻抗。
下標i和r分別表示入射波和反射波。該點（或該平面）的電壓反射系數Γ定義為對無耗傳輸線，不隨位置發生改變，θ與位置呈線性關系。電壓駐波比S簡稱駐波比，定義為傳輸線上相鄰的電壓大值和小值之比：駐波比的相位以lmin表征，lmin規定為由參考點（或平面）向信號源方向移動到近一個駐波節點（電壓小點）處的距離。駐波相位的單值變化范圍為。集總參數阻抗標準和蘇州儀器校準精密計量儀器在低頻范圍內，通常采用各種電橋來實現被計量阻抗和標準阻抗的精密比較。在高頻范圍內，電路元件的殘量以及它們和地之間的雜散阻抗使得低頻電橋不再適用，而需要采用其他精密計量方法和裝置。集總參數阻抗標準。在集總參數阻抗檢定系統表中，常用容抗作為參考量，因為容抗的量值可由電容器幾何尺寸和空氣的相對介電常數直接計算得到。
高頻電容標準實際上是一段精密同軸空氣介質傳輸線，其幾何形狀簡單，長期穩定性好，殘余阻抗很小。如果再輔以低頻電容標準，借助各種指零式和諧振式儀表，通過直接比較和外推，就可以將量值傳遞到集總參數阻抗的各種工作標準器上。精密雙T電橋。在集總參數阻抗量值傳遞和精密測試中，雙T電橋是測量不確定度小的一種計量裝置。雙T電橋的簡化電路如圖11.41所示，被測器件接入TXA或TXB端。TXA和TXB端的測量結果可相互校準，因此雙T電橋具有自校準功能。由于它使用準確度和讀數分辨率都很高的精密同軸可變電容作為阻抗標準，因此可以獲得很高的準確度。信號源、指示器、被測阻抗和標準電容器均接在共同的接地端子上，有利于屏蔽和減少干擾，特別適用于高頻阻抗測量。
此外還有高頻Q表、LRC表和高頻阻抗分析儀等儀器。Q表是集總參數阻抗計量儀中的一種通用儀器，雖然它的計量準確度不高，但使用方便，能測Q值等多種阻抗參量，特別適用于測量高Q低損耗元件，因此應用十分廣泛。Q表的檢定中常使用標準Q值線圈作為標準量具。LRC表是進行多功能寬量程分立元件高頻阻抗參量測量的綜合測量儀器，它利用電橋將被測阻抗Zx與標準阻抗Rs之比轉換為電壓之比，而測量部分則使用雙斜積分數字電壓表技術測量電壓矢量比值，從而求出測量結果。高頻阻抗分析儀則可以測量有源和無源器件的高頻阻抗特性。3．微波阻抗標準和蘇州儀器校準精密計量設備（1）微波阻抗標準。除了傳輸線特性阻抗、阻抗（導納）、電壓反射系數、電壓駐波比等參量外，描述微波阻抗的物理量還包括四端網絡的散射參量等。
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信號A首先被探測和顯示，然后是信號B間歇信號，如突發現象一般不會被探測到，除非在濾波器掃過時，在某一準確時間出現。由電力電子設備產生的電磁發射通常是寬帶連續的，其頻率范圍從工頻到幾十兆赫。通常傳導EMI應在這一頻率范圍被測量。由于許多和國際標準只在O．MHz～MHz的頻率范圍內確定傳導發射，傳導EMI的測量也僅僅在這一范圍內討論信號的測量方法。在O．MHz～MHz頻率乃至低至kHz范圍內的EMI分量，由EMI接受裝置測量。
EMI接收機測得的是一個被測設備的輸出電壓。實質上EMI接收機是可調諧的有頻率選擇的具有精密的振幅響應的電壓計各部分功能如下傳感器。可由電壓探頭電流探頭各類天線等部件組成。根據測量的目的，選用不同部件來提取信號。輸入衰減器。可將外部進來的過大信號或干擾電平給予衰減，調節衰減量高低，保證測量接收機輸入的電平在測量接收機可測范圍之內，同時也可避免過電壓或過電流造成測量接收機損壞。校準信號源。與普通接收機相區別，測量接收機本身提供內部校準信號源，可隨時對測量接收機的增益加以自我校準，以保證測量值的準確。
射頻放大器。利用選頻放大原理，僅選擇所需的測量信號進入下級電路，而外來的各種雜散信號包括鏡像頻率信號中頻率信號交調諧波信號等)均排除在外。混頻器。將來自射頻放大器的射頻信號和來自本機振蕩器的信號合成產生一個差頻信號輸入到中頻放大級，由于差頻信號的頻率遠低于射頻信號頻率，使得中頻放大級增益得以提高。本機振蕩器。提供一個頻率穩定的高頻振蕩信號。中頻放大器。由于中頻放大器的調諧電路可提供嚴格的頻率帶寬，又能獲得較高的增益，因此保證接收機的總選擇性和整機靈敏度。
檢波器。測量接收機的檢波方式與普通接收機的檢波方式有著重大差異。測量接收機除可接收正弦波信號外，更常用于測量脈沖騷擾電平，因此測量接收機除了通常具有的平均值檢波功能外還增加了峰值檢波和準峰值檢波功能。頻譜分析儀是當前頻譜分析的主要工具，尤其是掃頻外差式頻譜分析儀是當今頻譜儀的主流，應用掃頻測量技術，通過掃頻信號源得到外差信號進行頻域動態分析。接收機是進行EMC測試的主要工具，以點頻法為基礎，應用本振調諧的原理測試相應頻點的電平值。
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