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面對顯示屏一手握尺身，另一手捏住尺框外量爪前后搖動，感覺間隙較小為好；量面錯位：使兩外量面接觸，手指模接觸處兩邊，感覺錯位越小越好（極限0.1mm）；推零位：一手推尺框使兩外量面接觸并保持一定推力（等于測量時推力），同時用另一手清零（此為正確清零方式），然后再增加推力（比測量時推力略大），觀察零位變化，只許出現負號，不應有數字改變。示值誤差：顯示值與被測量真值之差。分為以下三項細分誤差：電子組件本身的誤差。檢驗方法：在外量面內側（阿貝誤差小）用一組間隔0.5mm的量塊，例如1、1.5、2、2.5、3、3.5、4、4.5、5mm共九個量塊，測量數顯卡尺示值誤差，其大誤差可看做為細分誤差，一般不應超過0.01mm。
外測量示值誤差：用步距規或尺寸分布適宜的一組量塊（不少于5件）在外量面內側（阿貝誤差小，在量面外側檢外量面平行度）檢驗其外測量示值誤差，其大誤差應不超過標準規定的極限（與測量范圍有關，0-100mm為±0.02mm；＞100-300mm為±0.03mm）； 內測量示值誤差：用小環規（直徑3-4mm）和步距規相結合檢驗內測量示值誤差，這是國際通用檢驗方法。但我國多數卡尺（數顯卡尺、帶表卡尺、或游標卡尺）生產廠家和用戶，并未認真檢驗內測量示值誤差，只檢驗10mm處內量爪尺寸或這一點的示值誤差，以至多數卡尺內測量示值誤差較大（與國外名牌卡尺相比，差距較大）。 外量面平行度：先用10mm以下的量塊或針規，分別在外量面的內、外兩處用相同測力測量，兩處顯示值相差不超過規定值（此規定值與量面長度有關，普通測量范圍0-300mm的數顯卡尺，該規定值為0.02mm）。
后用刀口直尺找出尺身基面彎曲大處（拐點），在離該處前后各約20mm處選定量塊（或組合尺寸）并側立放置，分別在外量面的內、外兩處測量，兩處讀數相差亦不應超過上述規定值。 側向間隙和尺身基面直線度對外量面平行度影響較大。 內量面平行度：在卡尺外量面間夾住10mm量塊并鎖緊螺釘，然后將卡尺平放在工作臺邊使內量爪朝向檢驗者，用測力不大于6牛頓的千分尺（好用杠桿千分尺，因其它千分尺測力可能達到9牛頓）測量其內量面平行度。 目力觀測：使外量面接觸，手握卡尺面對顯視屏，迎光用單目正視觀察兩內量面間應無間隙；稍微傾斜再觀察，可稍見透光，其間隙應均勻（不超過0.01mm）。此方法簡單易行，如有疑義，改用杠桿千分尺檢驗。
三.定期進行保養，如工作導軌工作面應上油，電器設備應定期通電等，防銹、防霉變措施正確。東莞儀器儀表檢測服務中心找博羅質量全搞定()對度要求高，運，量值易變和丈量設備，可酌情縮短周期;對運不、功能安穩，也可酌情延伸周期，但多不得超越規則周期倍，長不超越年。()對計量數據度有要求，但運不，且功能安穩和丈量設備，在不影響丈量度前提下，可依據運狀況斷定合理周期，但不得超越規則周期倍，長不超越年。()對大設備上裝備，并且拆裝有困難或拆裝可能影響設備功能和丈量設備，可隨設備檢修周期同步組織檢定(校驗)，但平常加強保護和數據。()對計量數據度有要求，但因特別因無法進行檢定/校準(校驗)，且功能安穩和丈量設備，實施檢定/校準(校驗)，壞篩選。
()對所測數據無嚴格要求和丈量設備，能夠延伸周期到規則周期倍，長不超越年。()對延伸檢定周期丈量設備，在周期內至少組織次抽檢。四.除儀器設備的專業維修人員外，任何人不得任意拆裝、調整，有封印的部位的封記不得破壞，以免破壞儀器設備的性能。要增加一列“溯源結果確認指標”各類濕度計、溫濕度傳感器、干濕表、濕度變送器、濕度記錄儀、濕度發生器等。五.儀器設備使用結束，對有可能影響儀器設備性能的部位如手接觸非油漆部位等進行必要的保養，切斷工作電源，做好交班記錄。輕工類儀器校準：銳利尖點測試儀、銳利邊緣測試儀、奶嘴測試儀、小物件測試筒、跌落地板、撓曲測試器、織物厚度儀、織物平磨儀、織物縮水率測試儀、耐水洗色牢度儀、摩擦染*牢度儀、汗漬色牢度儀、灼熱絲試驗儀、AKRON耐摩試驗機、紫外線耐候試驗機等。
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從而確保除了感興趣的頻率進行測量以為，其它頻率都被排除。這個步驟滿足條件并確保對信號的帶寬進行了限制。有兩個因素會導致簡單的抗混疊方法復雜化。個也是容易解決的因素是，抗混疊濾波器的滾降(rolloff)速率是有限的。如圖6所示，在實際濾波器的通帶和截止帶之間有一個過渡帶。這個過渡帶中的頻率可能產生混疊。為了避免這些混疊分量，濾波器的截止頻率必須低于理論頻率上限?s/2。解決這個問題的簡單辦法是使用過采樣(以高于Nyquist采樣率的速率進行采樣)。使采樣頻率略高于?max的兩倍，也就是截止帶實際開始頻率的兩倍，而不是要測量的頻率的兩倍。許多VSA的實現都使用保護帶以防止顯示混疊的頻率分量。
FFT計算超出50%?s(相當于?s/2)的頻譜分量。保護帶大約在?s的40%至50%(或?s/2.56至?s/2)之間并且沒有顯示，因為它可能被混疊分量破壞。不過當VSA軟件進行逆FFT運算時，在保護帶中的信號用于提供的時域結果。高滾降率濾波器再結合保護帶，會抑制潛在的混疊分量，并將它們衰減到遠低于測量前端的底噪。另一個致使混疊(有限的頻率分辨率)復雜化的因素解決起來難得多。首先，為寬頻掃寬(高采樣率)設計的抗混疊濾波器不適用于測量小分辨率帶寬，原因有二個:一是需要極大的樣本數量(內存分)，二是需要驚人的FFT計算量(長測量時間)。例如，當采樣率為10MHz時，一個10Hz分辨率帶寬的測量將需要超過100萬點的FFT。
也就是需要使用巨大容量的存儲器和極長的測量時間。這是不可接受的，因為小分辨率帶寬的測量能力是VSA的一大優勢。提高頻率分辨率的一個方法是減小?s，但代價是降低了FFT的頻率上限，也就是終分析儀的帶寬。不過，這仍不失為一個好方法，因為它允許你控制測量分辨率和頻率范圍。當采樣率降低時，抗混疊濾波器的截止頻率也必須降低，否則就會發生混疊。一種可能的解決方案是對每個掃寬提供一個抗混疊濾波器，或提供一個可選擇截止頻率的濾波器。使用模擬濾波器實現這種方案的困難很多，而且成本高昂，但是有可能通過DSP以數字形式添加額外的抗混疊濾波器。數字抽取濾波器和重采樣算法提供了頻率分辨率受限制問題的解決方法。AgilentVSA軟件中就使用了這種方法。
數字抽取濾波器和重采樣執行必要的操作以允許改變掃寬和分辨率帶寬。數字抽取濾波器同時降低采樣率并限制信號的帶寬(提供混疊)。輸入數字濾波器的采樣率為?s;輸出該濾波器的采樣率為?s/n，其中“n”是抽取因子，為整數值。類似的，輸入濾波器的帶寬為“BW”，輸出濾波器的帶寬為“BW/n”。許多實現過程執行二進制抽取(采樣率按1/2的速度降低)，這意味著采樣率按2的整數冪改變，即步進值為1/(2n)(1/1/1/8......)。通過“除以2n”得出的頻率掃寬稱為基數掃寬。由于減少了DSP操作，通常在基數掃寬上進行的測量比在任意掃寬上進行的測量要快。抽取濾波器允許采樣率和掃寬以2的冪次改變。
要獲得任意掃寬，采樣率必須是無限可調的。這由抽取濾波器之后的重采樣或插值濾波器來完成。盡管數字重采樣濾波器在降低采樣率的同時提供了混疊的，模擬抗混疊濾波器仍然是必要的，因為數字重采樣濾波器本身也是一個被采樣系統，必須被防止出現混疊。模擬抗混疊濾波器運行于?s上，保護寬頻率掃寬上的分析。在模擬濾波器之后的數字濾波器，為較窄的、用戶定義的掃寬提供抗混疊能力。當抗混疊涉及帶限信號，并使用示波器作為VSA軟件前端時，還必須采取額外的措施。下一個限制小分辨率帶寬分析的復雜因素來源于FFT算法自身的本質特性;FFT實質上是一個基帶轉換。這意味著FFT頻率范圍從0Hz(或DC)開始，一直到某個大頻率(?s/2)結束。
在小頻段需要被分析的測量情況中，這可能是一個重大限制。例如，如果測量前端的采樣率為10MHz，頻率范圍將從0Hz到5MHz(?s/2)。如果時間樣本數量(N)為1024，那么頻率分辨率將為9.8kHz(?s/N)。這意味著接近9.8kHz的頻率可能無法分辨。如前所述，可以通過改變采樣率來控制頻率掃寬，但是由于掃描范圍的起始頻率是DC，所以分辨率仍然受到限制。頻率分辨率可以任意提高，但是付出的代價是高頻率的降低。這些限制的解決方法是帶寬選擇分析，又稱為“縮放操作”或“縮放模式”。縮放操作使您可以在保持中心頻率不變的情況下減小頻率掃寬。這點非常有用，因為你可以分析和查看遠離0Hz的小頻率分量。縮放操作允許你將測量焦點放在測量前端頻率范圍內的任意頻率點處(圖7)。
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